Микроскоп LUMOS II с функцией FT-IR-визуализации

LUMOS II — это простой в использовании автономный FT-IR микроскоп для визуализации, обладающий самыми высокими характеристиками в любом режиме измерения. LUMOS II отлично подходит для таких режимов измерения, как пропускание, отражение или нарушенное полное внутреннее отражение (НПВО).

Ключевые преимущества:

·        Высокопроизводительная FPA-матрица для ИК-изображений

·        Получение высокодетализированных спектроскопических и визуальных данных

·        Сверхбыстрый сбор данных в режиме ИК-изображения

·        ИК-изображения в режимах ATR, пропускания и отражения

·        Полностью автоматизированные измерения во всех режимах

·        Высокочувствительный термоэлектрически охлаждаемый MCT-детектор (TE-MCT) в стандартной комплектации

·        Программное обеспечение с пошаговыми подсказками для удобного проведения измерений

·        Возможность работы с образцами толщиной до 40 мм

·        Большое поле зрения и высокое качество визуализации

·        Полностью моторизованные компоненты с программным управлением

·        Соответствие требованиям cGMP, фармакопей и FDA 21 CFR Part 11

·        Автоматизированное проведение тестов OQ/PQ и фармакопейных испытаний

·        Стабильная и надежная работа благодаря технологии PermaSure+™

Области применения:

·        Полимерная промышленность

·        Химическая промышленность

·        Автомобилестроение

·        Естественные науки

·        Фармацевтическая промышленность

·        Искусство и реставрация

·        Криминалистика и судебно- медицинская экспертиза

Экология и защита окружающей среды